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一、產(chǎn)品介紹

OmniScan SX有兩種型號：SX PA和SX UT。

SX PA是一款16:64PR相控陣單元，與僅具有UT通道的SX UT一樣，也配備了一個常規(guī)UT通道，可以進行脈沖回波、一發(fā)一收或TOFD檢測。與OmniScan MX2相比，OmniScan SX重量輕33 %體積小50 %,更為輕巧便攜。

二、設置

可以在NDT SetupBuilder中為檢測進行設置，然后再通過SD卡或USB鑰匙，將設置直接導入到OmniScan SX儀器。進行采集之前，只需在儀器中進行幾項基本操作，如：設置閘門和范圍。由于OmniScan SX具有以下幾個特性，用戶也可以在儀器中非常方便地創(chuàng)建設置：

? 自動探頭識別

? 單步驟、預先配置應用的向導

? 焊縫覆蓋與聲線跟蹤模擬

三、校準

為完成一項符合規(guī)范的檢測，儀器中的校準向導可以使得每組中的每個聚焦法則都等同于一個單通道常規(guī)探傷儀。用戶在完成所要求的校準過程中，會得到向導的分步指導。所校準的項目包括聲速、楔塊延遲、靈敏度、TCG、DAC、AWS及編碼器?，F(xiàn)在，儀器可以自動完成TOFD PCS校準與直通波矯直的操作。

四、采集

在進行手動、單線或光柵編碼掃查時，OmniScan SX可以方便地對檢測參數(shù)進行配置。采集數(shù)據(jù)可以用戶選擇的視圖形式實時顯示在屏幕上，用戶還可以將數(shù)據(jù)存儲于具有熱插拔功能的SD卡或USB 2.0設備中。

五、優(yōu)勢

? 智能布局

? 全屏模式，可更好地顯示缺陷

? 可以使用不同的閘門組合對同步和測量進行處理數(shù)據(jù)分析和報告制作

? 數(shù)據(jù)光標、參考光標與測量光標用于缺陷的定量。

? 擴展的數(shù)據(jù)庫、預先定義的三角學參數(shù)列表、缺陷相對于軸的統(tǒng)計數(shù)據(jù)、體積位置信息、基于規(guī)范的合格標準、腐蝕成像的統(tǒng)計數(shù)據(jù)等等。

? 在進行離線閘門重新定位的操作中，視圖可被鏈接在一起，進行交互式分析和自動更新。

? 優(yōu)化的預置布局可對缺陷的長度、深度和高度進行快速方便的定量。

無論您想在計算機中完成數(shù)據(jù)分析，還是希望您的OmniScan儀器采集完數(shù)據(jù)后繼續(xù)在現(xiàn)場進行數(shù)據(jù)分析，OmniPC或TomoView都是理想的與OmniScan配套使用的軟件工具。

聯(lián)系人：達剛

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